E-Z-NAILCLIP™ 86-1 Series, 测试点

测试点是一种重要的组件，用于在待测电路和测试设备之间建立电气连接。这些测试点可以实现对电子电路的精确测量和分析。有多种类型的PC测试点可供选择，每种都具有独特的特点和优势。 插孔测试点：这些测试点呈圆柱形，直径较小，适合空间有限的应用。 紧凑型测试点：紧凑型测试点设计在占用电路板上最少的空间的同时，为测试设备提供可靠的连接点。 大型测试点：顾名思义，这些测试点具有较大的尺寸，便于测试和探测时的操作和接触。 环形测试点：环形测试点采用环形设计，便于连接测试探针或挂钩，简化测试过程。 低型测试点：这些测试点具有较低的高度，非常适合高度受限的应用。 微型测试点：微型测试点尺寸小巧，非常适合紧凑电路板或空间有限的应用。 多功能测试点：多功能测试点具有多样性，可实现各种类型的测试连接，例如探针尖端、挂钩或鳄鱼夹。 直角（R/A）测试点：直角测试点具有直角配置，便于在狭小空间或电路板朝向要求的情况下方便地接触测试点。 直角双环测试点：这些测试点采用双环设计，提供多种连接选项和灵活性。 开槽测试点：开槽测试点具有槽或凹槽，便于与探针或挂钩进行简单连接，以确保安全连接。 标准挂钩测试点：标准挂钩测试点具有挂钩形状的末端，便于连接测试引线或测试探针。 PC测试点的高度可变，范围从0.045英寸（1.15mm）到1.312英寸（33.33mm），以确保与不同电路板设计和要求的兼容性。 通过提供具有不同设计和高度的PC测试点，用户可以选择最适合其特定测试需求的测试点。这些测试点为测试过程中方便可靠地接触电路提供了一种手段，实现了精确的测量和分析。